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chroma 5104 高速 LED 燈管線上量測系統(tǒng)，主要特色：每日超過一萬支燈管測試產(chǎn)能支援各類燈管之量測支援JEL801燈管場型量測支援閃頻量測
chroma 58173-FC LED自動測試系統(tǒng)，主要特色：提供*電性測試 (200V/2A) ，可滿足HV及HP測試Chroma大面積光偵測器(量測角度可達(dá)148度)半自動精密LED wafer/chip點測設(shè)備特殊無鉆孔真空平臺設(shè)計特制Edge Sensor具有點測針壓穩(wěn)定
chroma 58154 ESD 測試系統(tǒng)，主要特色：提供兩種ESD 測試標(biāo)準(zhǔn) : Human body model and Machine model用戶自定項目: Interval, cycle and polarity are programmable高分辨率 : 5V per-step for Machine model
chroma 58182 Top-view 測試系統(tǒng)，主要特色：可量測白光或 RGB LED Top-view Light Bar 之光均勻性搭載自動影像辨識功能杰出之光學(xué)量測表現(xiàn)成功篩檢 ESD 損傷之 LED Light bar可接取 FPC/PCB Light Bar 之平臺
chroma 58183 LED Light Bar 電性測試系統(tǒng)，主要特色：微電流供應(yīng)與量測PC設(shè)計之架構(gòu)支持多任務(wù)量測，使用者可一次設(shè)定多組測試項目進(jìn)行量測多支持4組外加控制盒使用Chroma通用L/B接線治具，可更廣泛接取各種LED燈條進(jìn)行測試軟件具權(quán)限設(shè)定與管理之功能
chroma 7935 晶圓檢測系統(tǒng) 主要特色：大可檢測8“ 晶圓 (檢測區(qū)域達(dá)10“ 范圍 )可因應(yīng)不同產(chǎn)業(yè)的晶粒更換或新增檢測項目上片后晶圓對位機(jī)制自動尋邊功能可適用于不同形狀之晶圓瑕疵規(guī)格編輯器可讓使用者自行編輯檢測規(guī)格影像辨識成功率高達(dá) 98%可結(jié)合上游測試機(jī)晶粒資料，合并后上傳至下一道制程設(shè)備提供檢測報表編輯器，使用者可自行選擇適用資料并進(jìn)行分析適合LED、雷射二極體及影像感測器等產(chǎn)
chroma 54100 series 致冷芯片溫度控制器，主要特色：雙向控制與150W (24V/8A), 300W (24V/13A),800W (40V/20A) 功率輸出濾波型PWM輸出，90％的效率轉(zhuǎn)換，同時維持溫度設(shè)定范圍從-70到250℃，溫度解析度達(dá)0.01℃，精度達(dá)0.3℃在PID控制下
chroma 51101C 溫度/多功能記錄器 主要特色：可多臺1通道、8通道、64通道記錄器連結(jié)個人電腦，達(dá)到數(shù)百通道量測之目的依照ITS-90定義支溫度范圍內(nèi)，支援T, K, B, E, J, N, S, R 類型熱電偶通道獨立冷端溫度補(bǔ)償，精確度±0.5°C溫度解析度0.01°C， 精確度 ±(0.01%讀值+0.5°C)(51101 series)VA-480 電壓量測轉(zhuǎn)換器 : 電壓
